NI半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)

許多半導(dǎo)體的檢驗(yàn)與特性實(shí)驗(yàn)室,都依賴機(jī)架堆疊儀器搭配大量的手動(dòng)測(cè)試程序,而生產(chǎn)測(cè)試單位則使用完整、高效通的昂貴自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備ATE來(lái)完成。從實(shí)驗(yàn)室到產(chǎn)線所采用的測(cè)試方法不同,很難能夠進(jìn)行很好的關(guān)聯(lián)(correlation),使得整體的測(cè)試成本難以降低。因此最佳的系統(tǒng)優(yōu)化應(yīng)透過(guò)通用的統(tǒng)一的測(cè)試平臺(tái),可因應(yīng)設(shè)計(jì)檢驗(yàn)到生產(chǎn)測(cè)試而隨時(shí)調(diào)整、讓設(shè)計(jì)與測(cè)試部門可輕松共用資料、以現(xiàn)有的半導(dǎo)體技術(shù)搭配最新功能,進(jìn)而降低成本。

NI?方法?的?優(yōu)勢(shì)
  • 降低?測(cè)試?成本

    一個(gè)?適用?于?從?特性?分析?到?生產(chǎn)?的?平臺(tái)?方法,?為?RF?和?混合?信號(hào)?測(cè)試?提供?了?更?低成本?的?高性能?測(cè)試?解決?方案。

  • 更?快速?的?測(cè)試

    NI?半導(dǎo)體?測(cè)試?客戶?反映:?在?滿足?測(cè)量?和?性能?要求?的?同時(shí),?測(cè)試?時(shí)間?縮短?了?10?倍。

  • 更?精準(zhǔn)?的?測(cè)量

    NI?產(chǎn)品?提供?了?業(yè)界?領(lǐng)先?的?測(cè)量?精度,?并?通過(guò)?NI?校準(zhǔn)?和?系統(tǒng)?服務(wù)?來(lái)?確保?精度?的?長(zhǎng)期?有效性。

第一輪6月19日,抽取二等獎(jiǎng): 羅馬仕5000mAh 移動(dòng)電源(8名);

第二輪7月14日,抽取三等獎(jiǎng): 20元話費(fèi)充值(20名),
及一等獎(jiǎng): 頭戴式藍(lán)牙耳機(jī)(1名)。

問(wèn)答問(wèn)題

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NI半導(dǎo)體有獎(jiǎng)知識(shí)小測(cè)驗(yàn),輕松贏好禮!

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